В книге Л. Жирифалько в ясной и доступной форме излагаются основы статистической физики кристаллов. В ней давно уже ставшее классическим описание статистики и кинетики электронной и фоновой подсистем кристалла. Кроме того, почти половина объема книги посвящена статистике и диффузионной кинетике точечных дефектов кристаллической решетки. Книгу Л. Жирифалько отличает целевой замысел: автор последовательно отбирает именно те проблемы, при решении которых сила статистического метода проявляется наиболее отчетливо. При этом основное внимание уделяется наиболее простым моделям, позволяющим донести результат теории до числа и вскрыть физический смысл как исходных предпосылок модели, так и полученных результатов.

Автор: Л. Жирифалько